スーパーX線面密度測定ゲージ

1600mm以上の塗工幅に対応し、超高速スキャンにも対応します。

薄くなった部分、傷、セラミックのエッジなどの小さな特徴を検出できます。

製品詳細

光線が電極に照射されると、光線は電極によって吸収、反射、散乱され、その結果、入射光線の強度に対して透過電極後の光線の強度がある程度減衰し、その減衰率は電極の重量または面密度に対して負の指数関数的になります。

I=I_0 e^−λm⇒m= 1/λln(I_0/I)

I_0 : 初期光線強度

I : 透過電極後の光線強度

λ : 測定対象物の吸収係数

m : 測定対象物の厚さ/面密度

半導体センサーとレーザーセンサーの測定の比較

● 詳細な輪郭と特徴の測定：高速・高精度（60 m/分）によるミリメートル空間分解能の面密度輪郭測定

● 超幅測定：1600mm以上のコーティング幅に適応します。

● 超高速スキャン：スキャン速度を 0 ～ 60 m/分に調整可能。

● 電極測定用の革新的な半導体放射線検出器：従来のソリューションよりも 10 倍高速な応答。

● 高速・高精度のリニアモーター駆動：従来のソリューションと比較してスキャン速度が 3 ～ 4 倍向上します。

● 自社開発の高速測定回路：サンプリング周波数は最大 200kHZ で、閉ループコーティングの効率と精度が向上します。

● 減肉容量損失の算出：スポット幅は最大1mmまで狭く、エッジ減肉部の輪郭や電極コーティングの傷など、微細な特徴を正確に測定できます。

測定システムのメインインターフェースのカスタマイズ可能な表示

● 間伐面積の決定

● 容量決定

● スクラッチ判定

アイテム	パラメータ
放射線防護	機器表面から100mmの放射線量は1μsv/h未満
スキャン速度	0～60m/分調整可能
サンプル周波数	200kHz
応答時間	0.1ミリ秒未満
測定範囲	10～1000g/㎡
スポット幅	1mm、3mm、6mmオプション
測定精度	P/T≤10%16秒間の積分：±2σ：≤±真値×0.2‰または±0.06g/㎡；±3σ：≤±真値×0.25‰または±0.08g/㎡；4秒間積分：±2σ：≤±真値×0.4‰または±0.12g/㎡；±3σ：≤±真値×0.6‰または±0.18g/㎡；