スーパーX線面密度測定装置

塗工幅1600mm以上の測定に対応。超高速スキャンをサポートします。

薄くなった領域、傷、セラミックエッジなどの小さな特徴を検出できます。

製品の詳細

光線が電極を照射すると、光線は電極によって吸収、反射、散乱され、その結果、電極を通過した後の光線強度は、入射光線強度に対して一定の減衰が生じ、その減衰率は重みに対して負の指数関数的になります。または電極の面密度。

I=I_0 e^−λm⇒m= 1/λln(I_0/I)

I_0 : 初期光線強度

I : 電極送信後の光線強度

λ : 測定対象物の吸収係数

m : 測定物の厚さ/面密度

半導体センサーとレーザーセンサーの測定比較

● 詳細な輪郭と特徴の測定：高速・高精度（60 m/min）によるミリ単位の空間分解能面密度輪郭測定

●超幅測定：塗工幅1600mm以上に適応。

●超高速スキャン：スキャン速度は0〜60m/分で調整可能。

● 電極測定用の革新的な半導体線検出器: 従来のソリューションよりも 10 倍速い応答。

● 高速・高精度のリニアモーター駆動: 従来のソリューションと比較してスキャン速度が 3 ～ 4 倍向上します。

●自社開発の高速測定回路：サンプリング周波数は最大200kHzで、クローズドループコーティングの効率と精度が向上します。

● 間引き容量損失の計算: スポット幅は最大 1 mm まで小さくできます。エッジ薄化部の輪郭や電極塗膜の傷などの微細な形状を正確に測定できます。

測定システムのメインインターフェースのカスタマイズ可能な表示

●間引き領域の判定

● 容量の決定

●キズ判定

アイテム	パラメータ
放射線防護	装置表面から100mmの放射線量は1μsv/h未満
スキャン速度	0-60m/分調整可能
サンプル周波数	200kHz
応答時間	＜0.1ms
測定範囲	10～1000g/㎡
スポット幅	1mm、3mm、6mm オプション
測定精度	P/T≤10%16秒で積分：±2σ：≦±真値×0.2パーセントまたは±0.06g/㎡;±3σ：≦±真値×0.25パーセントまたは±0.08g/㎡。4秒で積分：±2σ：≦±真値×0.4パーセントまたは±0.12g/㎡。±3σ：≦±真値×0.6パーセントまたは±0.18g/㎡。